Laboratorní mikroskopie
Laboratoř mikroskopie je podpůrným pracovištěm Oddělení pokročilých materiálů poskytující mikroskopické, analytické a konzultační služby pro pracoviště CXI, fakult Technické Univerzity a zákazníky z řad firemních subjektů i laické veřejnosti.
Výzkum
Hlavním předmětem činnosti laboratoře jsou mikroskopické, lokální chemické a krystalografické analýzy s cílem strukturní charakterizace, fázové identifikace, fraktografie a defektoskopie pro pracoviště Technické univerzity i zákazníky z řad firem i veřejnosti. Spolupracujeme se studenty při řešení jejich semestrálních, bakalářských, diplomových i disertačních prací. Významnou měrou se podílíme na výuce studentů fakult TU.
Zaměřujeme se na analýzy mikro- a nanomateriálů, kompozitů, tenkých vrstev, intermetalik, slitin železných i neželezných kovů, polymerních materiálů, geopolymerů, přírodních materiálů aj. Naše činnost zahrnuje například měření velikosti částic, určení jejich složení, identifikaci materiálových vad a příčin selhání strojních součástí, distribuce a statistické zpracování stanovených výsledků pro potřeby materiálového výzkumu.
Nabízíme
- Analýzu struktury a povrchu materiálů
- Výzkum příčin poruch konstrukčních dílů v průmyslové sféře
- Analýzy a optimalizace vlastností nových materiálů vyvíjených v průmyslové sféře
- Odborné poradenství a konzultace při optimalizaci technologických procesů a parametrů
- Školení pracovníků v oblasti optické a elektronové mikroskopie a metalografického hodnocení materiálů
Tým Laboratoř mikroskopie
Ing. Mateusz Fijalkowski Ph.D.
Ing. Pavel Kejzlar Ph.D.
Ing. Michaela Petržílková
Publikace
- A Flexible and Breathable Fiber-based Thermocouple with Nanoparticle-based Ni/Cu JunctionsXiuling Zhang, Kai Yang, Josef Vecernik, Xin Liu, Guocheng Zhu, Dana Křemenáková, Pavel Kejzlar, Mohanapriya Venkataraman, Jakub Wiener, Jiří Militký
Přístroje
Kapacitu našich špičkových přístrojů můžete po dohodě využít i vy.
Elektronový mikroskop Zeiss ULTRA Plus (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Rastrovací elektronový mikroskop s ultravysokým rozlišením vybavený Schottkyho katodou, zobrazovacími (SE2, InLens, ESB, AsB) a analytickými detektory (EDS, WDS, EBSD) umožňující komplexní charakteristiku nanomateriálů a struktur.
Precizní leštění ploch – Ion milling system SEM Mill 1060 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Zařízení pro precizní leštění ploch svazkem Ar iontů. Dvě nezávisle nastavitelná iontová děla pod úhlem 0 – 10° a urychlovací napětí 0,1 – 6 kV. Precizní příprava mikro/nano-řezy svazkem iontů, leštění vzorků pro EBSD a příprava vzorků pro TEM.
Naprašovačka pro SEM vzorky Quorum Q150R ES (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Kombinovaná napařovačka uhlíku a naprašovačka ušlechtilých kovů předně zlata, pro zvodivění povrchu elektricky nevodivých SEM vzorků. Vybavena komorou o velikosti 165mm a systémem pro měření tloušťky deponované vrstvy.
Elektronový mikroskop Tescan Vega 3 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Základní rastrovací elektronový mikroskop s wolframovou katodou pro rutinní nenáročné analýzy.
Mikroskop s rastrující sondou JPK Nanowizard 3 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Mikroskop s rastrující sondou (SPM) umožňující práci v režimech AFM (mikroskop atomárních sil) a MFM (mikroskopie magnetických sil), 3D charakterizaci a lokální měření tuhosti a adheze povrchu biologických, kovových i nekovových preparátů v plynném či kapalném prostředí.
Optický mikroskop Stemi 508 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Stereoskopický mikroskop s možností digitálního záznamu obrazu umožňující fotodokumentaci a následnou analýzu mikro/makrostruktur.
Optický stereo mikroskop Stemi DV4 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Makroskop pro rutinní náhledové pozorování struktur.
Rozbrušovací pila STRUERS Secotom-50 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Metalografická rozbrušovací pila umožňující přesné dělení materiálů.
Leštička/bruska STRUERS Tegramin 25 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Semiautomatická bruska a leštička metalografických vzorků.
Optický mikroskop ZEISS Axio Imager M2 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Přímý optický mikroskop s odraženým světlem, režimy BF (světlé pole), DF (tmavé pole), C-DIC (cirkulární diferenciální interferenční kontrast), motorizovaný stolek.
Optický mikroskop ZEISS Axio Observer A1 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Invertovaný optický mikroskop s průchozím světlem a fluorescenčním osvětlením pro pozorování transparentních vzorků.
Ústav pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace
Studentská 1402/2
sídlo:
Bendlova 1409/7 – budova L
460 01 Liberec 1
T +420 485 353 852
M +420 725 836 913
Zůstaňte v kontaktu
Univerzitní časopisy
Designed with WordPress