Laboratoř mikroskopie
Laboratoř mikroskopie je podpůrným pracovištěm Oddělení pokročilých materiálů poskytující mikroskopické, analytické a konzultační služby pro pracoviště CXI, fakult Technické Univerzity a zákazníky z řad firemních subjektů i laické veřejnosti.
Výzkum
Hlavním předmětem činnosti laboratoře jsou mikroskopické, lokální chemické a krystalografické analýzy s cílem strukturní charakterizace, fázové identifikace, fraktografie a defektoskopie pro pracoviště Technické univerzity i zákazníky z řad firem i veřejnosti. Spolupracujeme se studenty při řešení jejich semestrálních, bakalářských, diplomových i disertačních prací. Významnou měrou se podílíme na výuce studentů fakult TU.
Zaměřujeme se na analýzy mikro- a nanomateriálů, kompozitů, tenkých vrstev, intermetalik, slitin železných i neželezných kovů, polymerních materiálů, geopolymerů, přírodních materiálů aj. Naše činnost zahrnuje například měření velikosti částic, určení jejich složení, identifikaci materiálových vad a příčin selhání strojních součástí, distribuce a statistické zpracování stanovených výsledků pro potřeby materiálového výzkumu.
Nabízíme
- Analýzu struktury a povrchu materiálů
- Výzkum příčin poruch konstrukčních dílů v průmyslové sféře
- Analýzy a optimalizace vlastností nových materiálů vyvíjených v průmyslové sféře
- Odborné poradenství a konzultace při optimalizaci technologických procesů a parametrů
- Školení pracovníků v oblasti optické a elektronové mikroskopie a metalografického hodnocení materiálů
Tým Laboratoř mikroskopie
Ing. Mateusz Fijalkowski Ph.D.
Ing. Pavel Kejzlar Ph.D.
Ing. Kateřina Blatoňová
Ing. Michaela Smutná
Publikace
- A Flexible and Breathable Fiber-based Thermocouple with Nanoparticle-based Ni/Cu JunctionsXiuling Zhang, Kai Yang, Josef Večerník, Xin Liu, Guocheng Zhu, Dana Křemenáková, Pavel Kejzlar, Mohanapriya Venkataraman, Jakub Wiener, Jiří Militký
- Biodegradable AC Electrospun Nanofibrous Yarns: Technology, Modifications, Postprocess Treatment and Properties for Surgical SuturesJaroslav Mikule, Ema Chudobová, Jan Valtera, Pavel Kejzlar, Ondřej Friedrich, Jaroslav Beran, David Lukáš, Eva Kuželová Košťáková
Přístroje
Kapacitu našich špičkových přístrojů můžete po dohodě využít i vy.
Elektronový mikroskop Zeiss ULTRA Plus (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Rastrovací elektronový mikroskop s ultravysokým rozlišením vybavený Schottkyho katodou, zobrazovacími (SE2, InLens, ESB, AsB) a analytickými detektory (EDS, WDS, EBSD) umožňující komplexní charakteristiku nanomateriálů a struktur.
Precizní leštění ploch – Ion milling system SEM Mill 1060 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Zařízení pro precizní leštění ploch svazkem Ar iontů. Dvě nezávisle nastavitelná iontová děla pod úhlem 0 – 10° a urychlovací napětí 0,1 – 6 kV. Precizní příprava mikro/nano-řezy svazkem iontů, leštění vzorků pro EBSD a příprava vzorků pro TEM.
Naprašovačka pro SEM vzorky Quorum Q150R ES (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Kombinovaná napařovačka uhlíku a naprašovačka ušlechtilých kovů předně zlata, pro zvodivění povrchu elektricky nevodivých SEM vzorků. Vybavena komorou o velikosti 165mm a systémem pro měření tloušťky deponované vrstvy.
Elektronový mikroskop Tescan Vega 3 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Základní rastrovací elektronový mikroskop s wolframovou katodou pro rutinní nenáročné analýzy.
Mikroskop s rastrující sondou JPK Nanowizard 3 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Mikroskop s rastrující sondou (SPM) umožňující práci v režimech AFM (mikroskop atomárních sil) a MFM (mikroskopie magnetických sil), 3D charakterizaci a lokální měření tuhosti a adheze povrchu biologických, kovových i nekovových preparátů v plynném či kapalném prostředí.
Optický mikroskop Stemi 508 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Stereoskopický mikroskop s možností digitálního záznamu obrazu umožňující fotodokumentaci a následnou analýzu mikro/makrostruktur.
Optický stereo mikroskop Stemi DV4 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Makroskop pro rutinní náhledové pozorování struktur.
Rozbrušovací pila STRUERS Secotom-50 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Metalografická rozbrušovací pila umožňující přesné dělení materiálů.
Leštička/bruska STRUERS Tegramin 25 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Semiautomatická bruska a leštička metalografických vzorků.
Optický mikroskop ZEISS Axio Imager M2 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Přímý optický mikroskop s odraženým světlem, režimy BF (světlé pole), DF (tmavé pole), C-DIC (cirkulární diferenciální interferenční kontrast), motorizovaný stolek.
Optický mikroskop ZEISS Axio Observer A1 (cz)
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Invertovaný optický mikroskop s průchozím světlem a fluorescenčním osvětlením pro pozorování transparentních vzorků.
Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz
Příprava vzorků TEM a APT bez Ga+ díky nové koloně PFIB, která umožňuje finální leštění 500 V Xe+. Automatizovaná příprava vzorků TEM in situ a ex situ a příčné řezy pomocí volitelného softwaru AutoTEM 5. Nejvyšší propustnost a kvalita statisticky relevantní 3D charakterizace, průřezů a mikroobrábění pomocí 2,5 μA xenonové plazmové FIB kolony nové generace (PFIB). Přístup k vysoce kvalitním multimodálním podpovrchovým a 3D informacím. Nejkratší doba k získání informací v nanorozměrech pro uživatele s jakoukoli úrovní zkušeností díky technologiím SmartAlign a FLASH.
Ústav pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace
Studentská 1402/2
sídlo:
Bendlova 1409/7 – budova L
460 01 Liberec 1
T +420 485 353 852
M +420 725 836 913
Zůstaňte v kontaktu
Univerzitní časopisy
Designed with WordPress