The main focus of the laboratory is microscopic, local chemical, and crystallographic analyses for the purposes of structural characterization, phase identification, fractography, and defectoscopy for the Technical University and customers from companies and the public. We work with students on their semester, bachelor’s, master’s, and doctoral theses. We play a significant role in teaching students at the Technical University’s faculties.

We focus on the analysis of micro- and nanomaterials, composites, thin films, intermetallics, ferrous and non-ferrous metal alloys, polymer materials, geopolymers, natural materials, etc. Our activities include, for example, measuring particle size, determining their composition, identifying material defects and causes of failure of machine components, distribution, and statistical processing of the results for the purposes of materials research.

We offer

  • Analysis of the structure and surface of materials
  • Research into the causes of structural component failures in the industrial sector
  • Analysis and optimization of the properties of new materials
  • Expert advice and consultation on optimizing technological processes and parameters
  • Training of personnel in optical and electron microscopy and metallographic evaluation of materials
Ing. Mateusz Fijalkowski Ph.D.

Ing. Mateusz Fijalkowski Ph.D.

Materiálové inženýrství Nanotechnologie
Ing. Pavel Kejzlar Ph.D.

Ing. Pavel Kejzlar Ph.D.

Microscopy and microanalysis Fractography, defectoscopy Material engineering Structuroscopy and phase analysis Image analysis Evaluation of material properties
Ing. Michaela Petržílková

Ing. Michaela Petržílková

Nanotechnologie Strukturoskopie a fázová analýza Mikroskopie a mikroanalýza (SEM, AFM, EDS, WDS, EBSD, OM)
Would you like to work with us?

Would you like to work with us?

  • A Flexible and Breathable Fiber-based Thermocouple with Nanoparticle-based Ni/Cu Junctions
    Xiuling Zhang, Kai Yang, Josef Vecernik, Xin Liu, Guocheng Zhu, Dana Křemenáková, Pavel Kejzlar, Mohanapriya Venkataraman, Jakub Wiener, Jiří Militký

You can also use the capacity of our state-of-the-art equipment.

Elektronový mikroskop Zeiss ULTRA Plus (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Rastrovací elektronový mikroskop s ultravysokým rozlišením vybavený Schottkyho katodou, zobrazovacími (SE2, InLens, ESB, AsB) a analytickými detektory (EDS, WDS, EBSD) umožňující komplexní charakteristiku nanomateriálů a struktur.

Precizní leštění ploch – Ion milling system SEM Mill 1060 (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Zařízení pro precizní leštění ploch svazkem Ar iontů. Dvě nezávisle nastavitelná iontová děla pod úhlem 0 – 10° a urychlovací napětí 0,1 – 6 kV. Precizní příprava mikro/nano-řezy svazkem iontů, leštění vzorků pro EBSD a příprava vzorků pro TEM.

Naprašovačka pro SEM vzorky Quorum Q150R ES (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Kombinovaná napařovačka uhlíku a naprašovačka ušlechtilých kovů předně zlata, pro zvodivění povrchu elektricky nevodivých SEM vzorků. Vybavena komorou o velikosti 165mm a systémem pro měření tloušťky deponované vrstvy.

Elektronový mikroskop Tescan Vega 3 (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Základní rastrovací elektronový mikroskop s wolframovou katodou pro rutinní nenáročné analýzy.

Mikroskop s rastrující sondou JPK Nanowizard 3 (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Mikroskop s rastrující sondou (SPM) umožňující práci v režimech AFM (mikroskop atomárních sil) a MFM (mikroskopie magnetických sil), 3D charakterizaci a lokální měření tuhosti a adheze povrchu biologických, kovových i nekovových preparátů v plynném či kapalném prostředí.

Optický mikroskop Stemi 508 (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Stereoskopický mikroskop s možností digitálního záznamu obrazu umožňující fotodokumentaci a následnou analýzu mikro/makrostruktur.

Optický stereo mikroskop Stemi DV4 (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Makroskop pro rutinní náhledové pozorování struktur.

Rozbrušovací pila STRUERS Secotom-50 (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Metalografická rozbrušovací pila umožňující přesné dělení materiálů.

Leštička/bruska STRUERS Tegramin 25 (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Semiautomatická bruska a leštička metalografických vzorků.

Optický mikroskop ZEISS Axio Imager M2 (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Přímý optický mikroskop s odraženým světlem, režimy BF (světlé pole), DF (tmavé pole), C-DIC (cirkulární diferenciální interferenční kontrast), motorizovaný stolek.

Optický mikroskop ZEISS Axio Observer A1 (cz)

Ing.Pavel Kejzlar, Ph.D.
T: +420 485 35 31 28
E: pavel.kejzlar@tul.cz

Invertovaný optický mikroskop s průchozím světlem a fluorescenčním osvětlením pro pozorování transparentních vzorků.